Industrial and Intellectual Property

  • Automatización de la localización de defectos en el diseño de aplicaciones MapReduce [2018]

    Category:
    Ponencias
    Authors:
    Pablo Javier Tuya González , Claudio A. de la Riva Álvarez , Jesús Morán Barbón
    Date:
    01 of January of 2018
    It Is a Part of:
    Actas de las 23rd Jornadas de Ingenieria del Software y Bases de Datos, JISBD 2018